ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀
ATP5020 制冷微型光纖光譜儀
制冷型/高分辨率/低噪聲
一、產品概述
ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，CCD可工作在設定的恒溫環境（最低可達-15ºC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了極佳的信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP5020的測量可靠性，測量結果不隨環境溫度變化。
同時，奧譜天成為ATP5020特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界最佳水平。ATP5020可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。ATP5020只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。
二、特點：
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探測器：背照式CCD（制冷至-15 oC）
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探測器像素：2048×64
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超低噪聲CCD信號處理電路
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光譜范圍: 600-1180nm
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光譜分辨率: 0.1-2 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
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光路結構：交叉C-T
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積分時間：2ms-130s
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供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
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18 bit, 570KHz A/DConverter
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光輸入接口：SMA905或自由空間
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數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
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20針雙排可編程外擴接口
三、典型應用：
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拉曼光譜儀
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微量、快速分光光度計；
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光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
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透過率、吸光度檢測；
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反射率檢測；
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紫外、可見和短波近紅外
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波長檢測
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探測器 |
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類型 |
線陣背照式CCD (制冷到 -15ºC) |
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探測光譜范圍 |
190-1100 nm |
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有效像素 |
2048×64 |
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像元尺寸 |
14μm×14μm |
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全量程范圍 |
~200 ke- |
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靈敏度 |
6.5 uV/e- |
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暗噪聲 |
6 e- |
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光學參數 |
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波長范圍 |
600-1180 nm |
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光學分辨率 |
0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
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性噪比 |
>1300:1 |
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動態范圍 |
5000：1 |
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工作溫度 |
-10-40 oC |
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工作濕度 |
< 85%RH |
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光路參數 |
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光學設計 |
f/4 交叉非對稱C-T光路 |
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焦距 |
40 mm for incidence / 60 mm for output |
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入射狹縫寬度 |
5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制 |
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入射光接口 |
SMA905光纖接口、自由空間 |
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電氣參數 |
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積分時間 |
1 ms - 130 second |
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數據輸出接口 |
USB 2.0 |
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ADC位深 |
18 bit |
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供電電源 |
DC 5V±10% |
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工作電流 |
<2.3A |
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存儲溫度 |
-20°C to +70°C |
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操作溫度 |
-10°C to +40°C |
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物理參數 |
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尺寸 |
170×110×52 mm3 |
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重量 |
0.8 kg |
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Sealing |
Anti-sweat |
ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀
